宁夏11选5

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                  系統層級與芯片層級靜電放電的差異性
                  加入時間:2015-06-10
                      現在靜電放電已經成為影〖響電子產品質量的一個非常主要的因素,根據美國最近公布的數據,單就因為靜電放電造成的國家損失就高達200億美元之多,所有有效防範靜電放電,是非常迫切的任務。為了防範靜電放電的危害仙府出現在他面前,眾多靜電放電協會根據不同的環境制定了不同的靜電放電測試規範,可以分為芯片層級靜電放電測試和系那這一次統層級經典放電,那麽兩者有何差別▼呢?
                      1、模型電ω容電阻值規範不同
                      芯片層級靜〗電放電模型為對一個100pF電容充電後透過一串聯1.5kΩ電阻對待測物放電。而系統層級靜電放電模型為對一個150pF電容充電後透過一串聯330Ω電阻放電。由此可以看出在相同的靜電電壓下,系統層級靜電放電模型將會具有較多的電荷容量和較大的放電電流,其放電能量約為芯片層級靜電這樣放電能量的五倍之多,因此系統層級靜電放電測試將會比芯片層級可以說沒有焚世靜電放電測試還要更嚴苛。而會如此規範的原因是,生產廠商都會做工廠靜電消除管理,所以IC在制造生產的過程中受到靜電的威脅較小。而電子產品用戶所處的環境←卻是不受控制的,因此受到靜電放電的威脅較大,這也他竟然真是為什麽系統層級靜電放電規範會制定的如此嚴格。
                      2、要求的靜電放電電壓等級不同
                  一般IC只會要求到芯片層級靜電放電測試±2kV,而電子產品會要求到系統層級靜電放√電接觸測試±8kV,空氣放電±15kV。會這樣水來土掩規範的主要原因也是電子產品所處的環境是比◥IC所方向急速逃竄處的環境還要更嚴苛。
                      3、測試此時此刻的失效準則不同
                      芯片層級靜體內電放電測試是在IC針腳浮接的狀態下做測試,一般造成的損害為ㄨ硬件的損害。而系統層級靜電放電測№試是在電子產品上】電運作的狀態,除了可能造成硬件的損害,也有可能造成當機或系統運作不⊙穩定的情況。系統層級靜電放電測試的失效問題冷冷一笑是比芯片層你們難道真以為我只是一個仙君嗎級靜電放電測試還要多更多。
                      以上就是系統層級靜電放電和芯片層級靜電放電々的基本差異,可以發現不論是在放電能量、靜電電壓和失效準則,系統層級都較芯片◣層級靜電放電要求更嚴格。

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